Authors: Abe, K.; Akutsu, R.; Azuma, Y.; Izmaylov, A.; Jamieson, B.; Jesus, C.; Jiang, M.; Johnson, S.; Jonsson, P.; Jung, C. K.; Kabirnezhad, M.; Kaboth, A. C.; Kajita, T.; Ban, S.; Kakuno, H.; Kameda, J.; Karlen, D.; Katori, T.; Kato, Y.; Kearns, E.; Khabibullin, M.; Khotjantsev, A.; Kim, H.; Kim, J.; Barbi, M.; King, S.; Kisiel, J.; Knight, A.; Knox, A.; Kobayashi, T.; Koch, Lukas Uwe Gerhard; Koga, T.; Konaka, A.; Kormos, L. L.; Koshio, Y.; Barker, G. J.; Kowalik, K.; Kubo, H.; Kudenko, Y.; Kurjata, R.; Kutter, T.; Kuze, M.; Labarga, L.; Lagoda, J.; Lamoureux, M.; Lasorak, P.; Barr, G.; Laveder, M.; Lawe, M.; Licciardi, M.; Lindner, T.; Litchfield, R. P.; Li, X.; Longhin, A.; Lopez, J. P.; Lou, T.; Ludovici, L.; Barry, C.; Lu, X.; Lux, T.; Magaletti, L.; Mahn, K.; Malek, M.; Manly, S.; Maret, L.; Marino, A. D.; Martin, J. F.; Martins, P.; Batkiewicz-Kwasniak, M.; Maruyama, T.; Matsubara, T.; Matveev, V.; Mavrokoridis, K.; Ma, W. Y.; Mazzucato, E.; McCarthy, M.; McCauley, N.; McFarland, K. S.; McGrew, C.; Bench, F.; Mefodiev, A.; Metelko, C.; Mezzetto, M.; Minamino, A.; Mineev, O.; Mine, S.; Miura, M.; Molina Bueno, L.; Moriyama, S.; Morrison, J.; Berardi, V.; Mueller, Th. A.; Murphy, S.; Nagai, Y.; Nakadaira, T.; Nakahata, M.; Nakajima, Y.; Nakamura, A.; Nakamura, K. G.; Nakamura, K.; Nakamura, K. D.; Berkman, S.; Nakanishi, Y.; Nakayama, S.; Nakaya, T.; Nakayoshi, K.; Nantais, C.; Niewczas, K.; Nishikawa, K.; Nishimura, Y.; Nonnenmacher, T. S.; Novella, P.; Ali, A.; Berner, R. M.; Nowak, J.; O’Keeffe, H. M.; O’Sullivan, L.; Okumura, K.; Okusawa, T.; Oser, S. M.; Owen, R. A.; Oyama, Y.; Palladino, V.; Palomino, J. L.; Berns, L.; Paolone, V.; Parker, W. C.; Paudyal, P.; Pavin, M.; Payne, D.; Pickering, L.; Pidcott, C.; Pinzon Guerra, E. S.; Pistillo, C.; Popov, B.; Bhadra, S.; Porwit, K.; Posiadala-Zezula, M.; Pritchard, A.; Quilain, B.; Radermacher, Thomas; Radicioni, E.; Radics, B.; Ratoff, P. N.; Reinherz-Aronis, E.; Riccio, C.; Bienstock, S.; Rondio, E.; Rossi, B.; Roth, Stefan; Rubbia, A.; Ruggeri, A. C.; Rychter, A.; Sakashita, K.; Sánchez, F.; Sasaki, S.; Schloesser, C. M.; Blondel, A.; Scholberg, K.; Schwehr, J.; Scott, M.; Seiya, Y.; Sekiguchi, T.; Sekiya, H.; Sgalaberna, D.; Shah, R.; Shaikhiev, A.; Shaker, F.; Bolognesi, S.; Shaw, D.; Shaykina, A.; Shiozawa, M.; Smirnov, A.; Smy, M.; Sobczyk, J. T.; Sobel, H.; Sonoda, Y.; Steinmann, Jochen; Stewart, T.; Bourguille, B.; Stowell, P.; Suvorov, S.; Suzuki, A.; Suzuki, S. Y.; Suzuki, Y.; Sztuc, A. A.; Tacik, R.; Tada, M.; Takeda, A.; Takeuchi, Y.; Boyd, S. B.; Tamura, R.; Tanaka, H. K.; Tanaka, H. A.; Thompson, L. F.; Toki, W.; Touramanis, C.; Tsui, K. M.; Tsukamoto, T.; Tzanov, M.; Uchida, Y.; Brailsford, D.; Uno, W.; Vagins, M.; Vallari, Z.; Vargas, D.; Vasseur, G.; Vilela, C.; Vladisavljevic, T.; Volkov, V. V.; Wachala, T.; Walker, J.; Bravar, A.; Wang, Y.; Wark, D.; Wascko, M. O.; Weber, A.; Wendell, R.; Wilking, M. J.; Wilkinson, C.; Wilson, J. R.; Wilson, R. J.; Wret, C.; Andreopoulos, C.; Bronner, C.; Yamada, Y.; Yamamoto, K.; Yamasu, S.; Yanagisawa, C.; Yang, G.; Yano, T.; Yasutome, K.; Yen, S.; Yershov, N.; Yokoyama, M.; Buizza-Avanzini, M.; Yoshida, T.; Yu, M.; Zalewska, A.; Zalipska, J.; Zaremba, K.; Zarnecki, G.; Ziembicki, M.; Zimmerman, E. D.; Zito, M.; Zsoldos, S.; Calcutt, J.; Zykova, A.; T2K Collaboration; Campbell, T.; Cao, S.; Cartwright, S. L.; Catanesi, M. G.; Cervera, A.; Chappell, A.; Checchia, C.; Anthony, L.; Cherdack, D.; Chikuma, N.; Christodoulou, G.; Coleman, J.; Collazuol, G.; Coplowe, D.; Cudd, A.; Dabrowska, A.; De Rosa, G.; Dealtry, T.; Antonova, M.; Denner, P. F.; Dennis, S. R.; Densham, C.; Di Lodovico, F.; Dokania, N.; Dolan, S.; Drapier, O.; Duffy, K. E.; Dumarchez, J.; Dunne, P.; Aoki, S.; Emery-Schrenk, S.; Ereditato, A.; Fernandez, P.; Feusels, T.; Finch, A. J.; Fiorentini, G. A.; Fiorillo, G.; Francois, C.; Friend, M.; Fujii, Y.; Ariga, A.; Fujita, R.; Fukuda, D.; Fukuda, Y.; Gameil, K.; Giganti, C.; Gizzarelli, F.; Golan, T.; Gonin, M.; Hadley, D. R.; Haigh, J. T.; Ashida, Y.; Hamacher-Baumann, Philip; Hartz, M.; Hasegawa, T.; Hastings, N. C.; Hayashino, T.; Hayato, Y.; Hiramoto, A.; Hogan, M.; Holeczek, J.; Hong Van, N. T.; Awataguchi, Y.; Hosomi, F.; Iacob, F.; Ichikawa, A. K.; Ikeda, M.; Inoue, T.; Intonti, R. A.; Ishida, T.; Ishii, T.; Ishitsuka, M.; Iwamoto, K.

Venue: Physical Review D

Type: Publication

Abstract: Physical review / D D 99(7), 071103 (2019). doi:10.1103/PhysRevD.99.071103

DOI: 10.18154/rwth-2019-04722